Olivier DURAND s’associe à Mircea Modreanu (TNI, Ireland), Gerald E. Jellison (ORNL, USA), Tilo Baumbach (KIT, Germany), Giancarlo Salviati (CNR-IMEM, Italy) pour l’organisation de l’un des 32 symposia de l’EMRS Spring Meeting 2015 à Lille (11-15 mai) :
Symposium DD : "Current trends in optical and X-ray metrology of advanced materials for nanoscale devices IV"
Ce symposium donnera lieu à une Special Issue dans la revue Thin Solid Films (Elsevier)
soumission des abstracts :
http://www.emrs-strasbourg.com/index.php?option=com_content&task=view&id=409&Itemid=152